在單片機應用開(kāi)發(fā)中，代碼的使用效率問(wèn)題、單片機抗干擾性和可靠性等問(wèn)題(轉載)
用C語(yǔ)言進(jìn)行單片機程序設計是單片機開(kāi)發(fā)與應用的必然趨勢。如果使用C編程時(shí)，要達到最高的效率，最好熟悉所使用的C編譯器。先試驗一下每條C語(yǔ)言編譯以后對應的匯編語(yǔ)言的語(yǔ)句行數，這樣就可以很明確的知道效率。在今后編程的時(shí)候，使用編譯效率最高的語(yǔ)句。
各家的C編譯器都會(huì )有一定的差異，故編譯效率也會(huì )有所不同，優(yōu)秀的嵌入式系統C編譯器代碼長(cháng)度和執行時(shí)間僅比以匯編語(yǔ)言編寫(xiě)的同樣功能程度長(cháng) 5-20％。
對于復雜而開(kāi)發(fā)時(shí)間緊的項目時(shí)，可以采用C語(yǔ)言，但前提是要求你對該MCU系統的C語(yǔ)言和C編譯器非常熟悉，特別要注意該C編譯系統所能支持的數據類(lèi)型和算法。
雖然C語(yǔ)言是最普遍的一種高級語(yǔ)言，但由于不同的MCU廠(chǎng)家其C語(yǔ)言編譯系統是有所差別的，特別是在一些特殊功能模塊的操作上。所以如果對這些特性不了解，那么調試起來(lái)問(wèn)題就會(huì )很多，反而導致執行效率低于匯編語(yǔ)言。
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如何減少程序中的bug？
對于如何減少程序的bug，給出了一些建議，指出系統運行中應考慮的超范圍管理參數有：
1、"物理參數" 這些參數主要是系統的輸入參數，它包括激勵參數、采集處理中的運行參數和處理結束的結果參數。合理設定這些邊界，將超出邊界的參數都視為非正常激勵或非正?；貞M(jìn)行出錯處理。
2、"資源參數" 這些參數主要是系統中的電路、器件、功能單元的資源，如記憶體容量、存儲單元長(cháng)度、堆疊深度。在程式設計中，對資源參數不允許超范圍使用。
3、"應用參數" 這些應用參數常表現為一些單片機、功能單元的應用條件。如E2PROM的擦寫(xiě)次數與資料存儲時(shí)間等應用參數界限。
4、“過(guò)程參數” 指系統運行中的有序變化的參數。
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如何解決單片機的抗干擾性問(wèn)題
防止干擾最有效的方法是去除干擾源、隔斷干擾路徑，但往往很難做到，所以只能看單片機抗干擾能力夠不夠強了。
單片機干擾最常見(jiàn)的現象就是復位；至于程序跑飛，其實(shí)也可以用軟件陷阱和看門(mén)狗將程序拉回到復位狀態(tài)；所以單片機軟件抗干擾最重要的是處理好復位狀態(tài)。
一般單片機都會(huì )有一些標志寄存器，可以用來(lái)判斷復位原因；另外你也可以自己在RAM中埋一些標志。在每次程序復位時(shí)，通過(guò)判斷這些標志，可以判斷出不同的復位原因；還可以根據不同的標 志直接跳到相應的程序。
這樣可以使程序運行有連續性，用戶(hù)在使用時(shí)也不會(huì )察覺(jué)到程序被重新復位過(guò)。
了解嵌入式單片機領(lǐng)域的職業(yè)發(fā)展方向還是很有必要的，在學(xué)習中也可以不斷調整下自己偏重的技能，以達到更好的發(fā)展。
而同時(shí)，基礎也要鞏固好，如果你還不知道如何快速入門(mén)，建議到信盈達學(xué)院來(lái)進(jìn)行專(zhuān)業(yè)的課程學(xué)習，可以節省不必要的時(shí)間和精力。
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如何測試單片機系統的可靠性
有讀者希望了解用什么方法來(lái)測試單片機系統的可靠性，當一個(gè)單片機系統設計完成，對于不同的單片機系統產(chǎn)品會(huì )有不同的測試項目和方法，但是有一些是必須測試的：
1、測試單片機軟件功能的完善性。這是針對所有單片機系統功能的測試，測試軟件是否寫(xiě)的正確完整。
2、上電、掉電測試。在使用中用戶(hù)必然會(huì )遇到上電和掉電的情況，可以進(jìn)行多次開(kāi)關(guān)電源，測試單片機系統的可靠性。
3、老化測試。測試長(cháng)時(shí)間工作情況下，單片機系統的可靠性。必要的話(huà)可以放置在高溫，高壓以及強電磁干擾的環(huán)境下測試。
4、ESD和EFT等測試。可以使用各種干擾模擬器來(lái)測試單片機系統的可靠性。例如使用靜電模擬器測試單片機系統的抗靜電ESD能力；使用突波雜訊模擬器進(jìn)行快速脈沖抗干擾EFT測試等等。
還可以模擬人為使用中，可能發(fā)生的破壞情況。例如用人體或者衣服織物故意摩擦單片機系統的接觸端口，由此測試抗靜電的能力。用大功率電鉆靠近單片機系統工作，由此測試抗電磁干擾能力等。