一種片上嵌入式Flash測試接口的設想

一種片上嵌入式Flash測試接口的設想

做者：

錢(qián)勁宇，強小燕，屈凌翔

做者單元：

摘要：

Flash存儲器具有功耗低、存儲容量大、體積小等特點(diǎn),被普遍應用于嵌入式系統。目前Flash存儲器大都利用串行接口停止擦寫(xiě)測試，存在著(zhù)測試效率低、測試成本高檔問(wèn)題。針對以上問(wèn)題，設想并實(shí)現了一種片上嵌入式Flash的測試接口。連系片上嵌入式Flash的接口特點(diǎn)和時(shí)序要求，設想了基于多線(xiàn)SPI的測試接口，并在確保不變性的情況下實(shí)現了對多塊Flash存儲器并行測試的設想，進(jìn)步了測試速度。通過(guò)NCverilog仿實(shí)成果表白，該設想有效縮短了測試時(shí)間，到達了測試要求，并勝利應用于一款*2位浮點(diǎn)微處置器中。

引言：

跟著(zhù)信息手藝的飛速開(kāi)展，用戶(hù)對數據存儲系統的容量、功耗、速度等要求也越來(lái)越嚴酷 [1-2] 。Flash存儲器相對傳統的存儲器件RAM而言，具有集成度高、體積小、成本低等長(cháng)處 [*-4] ，因而跟著(zhù)集成電路的規模越來(lái)越大，Flash存儲器飛速開(kāi)展，逐步成為系統芯片支流的容量存儲媒體 [*] 。

目前Flash存儲器在完成設想后，凡是將串行尺度接口做為測試接口停止擦寫(xiě)測試，而串行時(shí)鐘頻次比力低，傳輸數據慢，測試效率低。另一方面，Flash存儲器的測試往往存在著(zhù)擦除、編程數據比力慢的問(wèn)題，那對存在多塊Flash的芯片產(chǎn)生了龐大的測試量，需要停止大量反復的測試，招致需要的測試時(shí)間較長(cháng) [6-*] ，因而，若何進(jìn)步測試效率，簡(jiǎn)化測試流程，在Flash測試中顯得尤為重要。

本文對片上Flash存儲器增加了測試接口，設想了片外測試通道，實(shí)現了片上嵌入式Flash的可測試性。為了進(jìn)步測試速度，降低測試成本，一方面，設想了基于1/2/4/8線(xiàn)多線(xiàn)傳輸的SPI測試接口，在兼容串行傳輸數據的同時(shí)撐持并行傳輸數據，另一方面，在確保不變性的情況下，實(shí)現了靈敏選定1/2/*塊Flash存儲器并行擦寫(xiě)測試的設想。

文章來(lái)源：《電子手藝應用》雜志*月刊

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